二手 KLA / ICOS CI 9450 #9181242 待售

KLA/ICOS CI 9450 Mask&Wafer Inspection equipment是一種自動光學檢查（AOI）系統，設計用於晶圓和mask inspection。它配備了先進的成像單元，以高速、精確的速度檢測缺陷。該機具有高分辨率數碼成像相機和兩個自動階段，用於掃描大型生產地圖。它還帶有一個集成的工具控制器，包括一個用戶友好的圖形界面，允許簡單直觀的檢查參數編程。KLA CI 9450的操作面積為40 x 40毫米，可以掃描各種晶圓和掩模尺寸。該資產利用紫外線（UV）成像技術精確檢查低至0.2微米的特征。這是通過捕捉實質性領域的圖像並評估它們的潛在缺陷來完成的。該模型還具有先進的對比度算法和顏色變換能力，有助於準確區分信號和缺陷。ICOS CI-9450還具有強大的分析能力以提高其準確性和可靠性。它具有統計缺陷模式匹配和分析算法來分析缺陷聚類，從而能夠更快地檢測缺陷。這包括錯誤缺陷識別，以幫助減少錯誤缺陷總數。此外，該設備還利用先進的平面場校正（FFC）算法來減少正向散射和最小化隨機噪聲。ICOS CI 9450具有直觀的圖形用戶界面（GUI），方便快速設置檢查。它具有多種不同的缺陷查看和打印功能，以及實時操作員反饋模式。該系統還有一個內置的光學顯微鏡，提供晶圓或掩模的視覺檢查。總之，KLA/ICOS CI-9450掩模晶片檢測儀是一種可靠、準確的掩模和晶片檢測儀。它有一個高分辨率的數碼成像相機和兩個自動掃描階段，以及強大的分析和實時操作員反饋。此外,它還具有直觀的圖形用戶界面,可以輕松設置工具。