二手 KLA / ICOS CI-G10 #293591822 待售

KLA/ICOS CI-G10是一種用於滿足半導體行業高端、高性能要求的掩模和晶圓檢測設備。該系統用於檢查關鍵特征和監視內置在掩碼和光掩碼中的模式。它具有最先進的光學和光學技術、先進的圖像處理算法以及集成缺陷審查和元數據管理來支持圖像。這種掩模和晶圓檢測單元的性能和檢測能力保證它可以用於最復雜布局的檢測，包括邏輯、內存和模擬/混合信號應用的檢測。此外，該機既可用於生產線，也可用於研發。該單元配備了全自動模具定位器（FADP），方便精確的樣品定位。FADP也由允許自動或手動對齊的示例級對齊器支持。這樣可以確保樣品始終位於視場上,以便進行準確檢查。該工具先進的光學技術和集成的軟件技術可提供高分辨率圖像、清晰的對比度以及整個視野中明亮、均勻的照明。這樣可以確保廣泛的檢查範圍,同時最大限度地減少像素噪聲並提供高達10,000：1的對比度。通過提供最優化的照明，甚至可以檢測到最好的缺陷。資產還配備了綜合、全面的缺陷審查和元數據管理模式。這使用戶能夠輕松查看和管理已檢查的圖像和元數據。此外，該設備還可以提供產量、缺陷計數、缺陷隔離度和缺陷檢測效率的統計數據。KLA CI-G10是一個功能強大的掩模和晶片檢查系統，能夠提供可驗證和可重復的檢查。其卓越的光學和高分辨率成像功能、集成的缺陷審查功能以及先進的成像算法使其成為生產和研發實驗室的絕佳選擇。