二手 KLA / ICOS CI-T120 #9101540 待售

KLA/ICOS CI-T120是為先進半導體制造而設計的高精度掩模和晶圓檢測設備。它提供了先進的掩碼和晶圓缺陷檢測和診斷功能,非常適合用於制造前沿半導體器件。KLA CI T120基於一個模塊化平臺，將兩個傳感器和照明系統合二為一。這些系統包括CMOS區域傳感器、獲得專利的智商²光學解決方案和先進的照明系統。面積感應器分辨率為2400萬像素，並設有專用的近紅外通道，用於提高對比度和分辨率。IQ ²光學單元可提供高達350倍的放大倍率,並提供增強的高分辨率成像的擴展景深。照明機兼具LED和UV光源，實現了快速鴉片化的多功能應用。ICOS CI T-120還提供全面的缺陷審查和檢測功能。它執行全面的缺陷審查，如面具缺陷、圖樣缺陷、圖樣拷貝和膠片汙染審查。它還執行自動缺陷檢測,包括粒子檢測和審查以及形狀測量。KLA CI T-120具有廣泛的動態範圍和高場強度，提供了最大的缺陷檢測和測量精度。ICOS CI T120易於使用,並通過其先進的自動缺陷審查模式提供了快速的結果。它被設計成集成到半導體制造工藝中，為晶圓鍵合、芯片封裝等先進半導體工藝提供全面的檢測解決方案。該工具還配備了功能強大的軟件工具，可實現快速的數據分析、圖像處理和報告。綜上所述，KLA/ICOS CI T-120是為最苛刻的半導體應用設計的高精度掩模和晶圓檢測資產。其全面的缺陷檢測和診斷能力,加上易用性,使其成為制造先進半導體器件的理想解決方案。