二手 KLA / ICOS CI-T120 #9162541 待售

KLA / ICOS CI-T120
光罩與晶圓檢測
製造商
KLA / ICOS
模型
CI-T120
ID: 9162541
優質的: 2008
Inspection system For GW 10H 3D GW Inspection (10) Heads Automatic pitch conversion X1 Input module X2 & X3 Output modules Windows OS: Win Xp Extra single tray sorting bin (X4) Display: LCD display, 17" Gull wing 3D inspection BGA 3D and bottom PVI inspection No 2D QFN / BCC Univ top plate Mark and aPVI option No burr inspection Mark inspection 45mm Lens EXT8 w/o filter: 60 mm, UV filter Barcode scanner USB ZCAL Gloden unit CSP Gloden unit GW Gloden unit GWT12 Gloden unit GW Inspection tool kit BGA Inspection tool kit Z1 10 Head CI-T1x0 Z2 Dual fixed head No ionizer kit SUNX standard Tray orientation kit (nf) Air blower set X1/LIM and MI: Only LIM 2008 vintage.
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KLA/ICOS CI-T120掩模和晶圓檢測設備是一種用於生產各種電子產品所用集成電路的成像工具。它提供快速、無破壞性的掃描和測量口罩和晶片的雜質和缺陷。該系統集成了先進的計量、缺陷審查和過程控制技術，以確保可靠的檢查和準確的結果。KLA CI T120是一個高性能單元，吞吐量高達每小時3850晶圓。它被設計用來檢測最小的缺陷，甚至低至0.5microns和更小。它利用先進的照明和成像技術提供精確的3D晶圓地形測量。該機包括一臺多功能彩色相機和一個具有連續360°可旋轉視野的檢查頭。該工具具有自動分區功能,可自動識別、標識和標記每個掩碼/晶圓區域,從而提供精確的對齊、定位和比較。它支持錯誤對齊和旋轉缺陷檢測,從而實現分類、審核和缺陷計數。它還可以評估缺陷設計和大小，從而能夠檢測常見的缺陷，如顆粒和顆粒簇。ICOS CI T-120包括強大的晶圓測量工具,如數字標記輔助註冊和自動對焦功能,以確保快速精確的晶圓定位。它采用先進的LED照明進行高精度成像和分析。它的自動化跟蹤還允許快速和一致的晶圓數據收集、分析和提取。此外,該資產的電子設備和軟件包可實現快速的數據傳輸和通信。此外,KLA/ICOS CI T-120模型的設計便於操作和維護,在廣泛的生產批次中具有出色的工藝一致性,確保了可靠和可重復的結果。其Equipment Monitor功能提供了所有相關工藝參數的詳細實時圖，使維護和優化更加容易。使用其用戶友好的Workbench軟件,用戶可以自定義圖標、工具、腳本和操作行為以進行優化或過程控制。
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