二手 KLA / ICOS CI-T120 #9190911 待售

KLA/ICOS CI-T120是一種自動化的掩模和晶圓檢驗設備,旨在幫助半導體制造商在其生產過程中保持高質量的標準。這項先進的技術能夠以速度和精度檢查投影掩模和半導體晶片的圖樣、厚度和其他關鍵尺寸特性。KLA CI T120系統利用先進的模式識別算法，精確檢測小至0.28微米的特征。獲得專利的成像技術允許識別各種照明條件下的圖樣缺陷，包括紅外和可見的亮場照明，以及暗場檢查。它還可以同時容納單面和雙面晶片。通過采用創新的抗鋸齒技術，該單元能夠在特征大小的5%以內實現邊緣檢測精度。ICOS CI T-120采用2k x 4k傳感器,允許每秒高達1600萬像素的完整檢測率。該機器的視野為12英寸，能夠高速掃描大小掩模和晶片。它還提供了慣性運動工具，允許操作員在檢查時手動調整速度和加速度。KLA CI-T120具有直觀的圖形用戶界面，便於學習和使用。它完全符合SEMI E120和E134建議的做法；使用戶能夠根據行業標準測試和認證其口罩和晶片。CI T-120是一種可靠、經濟高效的解決方案,適用於尋求先進的掩模和晶圓檢驗資產的半導體制造商,可幫助他們在整個生產過程中保持高質量的標準。憑借其先進的映像功能、直觀的用戶界面以及與行業標準的兼容性,CI-T120是在競爭日益激烈的行業中保持領先地位的理想選擇。