二手 KLA / ICOS CI-T120 #9195098 待售

KLA/ICOS CI-T120是一種頂級的掩模和晶圓檢測設備,旨在為設備制造提供高度準確可靠的缺陷檢測能力。該系統具有先進的光學成像功能,可在多個級別對樣品進行高分辨率檢查。成像單元由高質量的CCD相機和精密光學元件組成，用於樣品檢查。先進的照明和圖像捕捉技術甚至可以用來檢測和測量最小的缺陷。此外，這臺機器還配有內置顯微鏡，可在需要時以更高的放大倍率查看區域。該工具具有直觀的用戶界面和快速準確分析數據的工具。掃描搜索功能可以快速識別非均勻性,如顆粒、缺陷和汙染物。此外,資產數據可以多種格式存儲,從而實現高效的存檔和檢索。該模型還利用快速掃描時間和廣域覆蓋，允許快速準確檢測多個晶片的缺陷。設備采用集成算法，提供高保真圖像和掃描數據的準確分析。此外,系統還利用多種檢查算法來滿足特定需求,如掩碼平整度、掩碼配準等。KLA CI T120適用於提取關鍵掩模和晶片的缺陷信息，為質量控制提供了可靠的單元。它的數據捕獲功能允許對掃描數據進行廣泛的分析,並使用多種檢查算法來處理各種測試方案。直觀的用戶界面允許快速導航和分析檢查結果，確保操作準確可靠。機器的高保真成像能力和直觀的用戶界面使其成為生產質量控制的理想工具。