二手 KLA / ICOS CI-T120 #9208705 待售
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ID: 9208705
優質的: 2008
Inspection system
Modes:
BGA/CSP
CSP
LGA/Substrate
GW
QFN/BCC
Power consumption: 3.3 kW
Air pressure: 5.5 bar ± 0.7 bar (80 psi ± 10 psi)
Power supply: 115/230 VAC (±10%), 50/60 Hz, Single phase
2008 vintage.
KLA/ICOS CI-T120是一種用於檢測半導體制造缺陷的掩模和晶圓檢測設備。該系統由圖像處理子系統、晶圓檢測子系統和控制子系統三部分組成。圖像處理子系統使用成像光譜儀、自動對焦單元和成像光學機器，從包括光掩模、晶片、模具等表面在內的多種基板上收集圖像，然後將其轉換成圖像數據點。然後使用此圖像數據檢測缺陷。晶圓檢測子系統由一系列先進的光刻系統和一個多模具對準工具組成。利用光刻系統對晶片表面進行精確繪制以創建器件特征。多模具對齊資產用於精確定位、調整和對齊模具,以確保它們都處於同一方向。控制子系統負責控制操作順序，確保檢查結果準確。子系統還包括中央處理器、內存單元、輸入/輸出控制單元和通信鏈路。處理器負責控制模型操作，而內存單元則存儲圖像處理子系統和光刻系統收集的數據。輸入/輸出單元用於在設備之間傳輸數據,而通信鏈路允許系統連接到其他系統。KLA CI T120掩模和晶片檢測儀是一種用於快速定位和量化半導體制造缺陷的可靠、準確的機器。它是IC和其他半導體器件制造質量保證的理想工具。該工具的圖像處理和光刻系統以優異的分辨率提供準確的結果,而其控制子系統則確保資產以高效可靠的方式運行。
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