二手 KLA / ICOS CI-T120 #9229540 待售

KLA/ICOS CI-T120是一種自動光學檢查（AOI）設備,設計用於執行掩模和晶片檢查。該系統由一個緊湊的單元組成，其中裝有檢查過程所需的所有組件，如光源、光學和成像相機。該單元配備了63倍物鏡，允許高達1.2um的高分辨率成像。該機采用的彩色掃描技術使其具有較高的模式識別能力和較高的缺陷檢測率。自動對焦功能能夠不斷調整鏡頭對焦,確保清晰準確的圖像采集。檢查過程是通過在成像工具下從物體的頂部和底部平衡光源輻照角度來完成的。這樣就形成了統一的陰影,從而能夠進行精確和準確的檢查。新配置的Z電動機可補償晶圓的傾斜度,從而實現精確的成像。該資產還有幾種檢測晶圓缺陷的內置算法，有助於組件追溯，為用戶提供全面的缺陷數據。KLA CI的固有特性T120使其能夠提供缺陷失真分析和3D成像,從而在識別表面缺陷時實現高收率和準確性。ICOS CI T-120還具有全面的連接。它提供以太網、USB、以太網和Opto-Isolator I/O功能,為系統提供允許遠程訪問和維護的用戶界面。這也確保了模型完整性,因為只有授權人員才能訪問模型完整性。它還具有內置診斷功能,可快速診斷和故障排除問題,從而加快維護速度。KLA CI-T120是那些尋找高效、高性能的掩模和晶片檢測設備的人的理想選擇。其先進的光學和成像能力,加上其緊湊的尺寸,使其成為任何設施的理想選擇。該系統的先進功能，如自動聚焦和缺陷檢測算法，使其成為提高質量控制和消除生產浪費的必要工具。