二手 KLA / ICOS CI-T120 #9232196 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
KLA/ICOS CI-T120是一種新一代的掩模和晶圓檢測設備,它為無損光學和電氣檢測提供了先進的功能。KLA CI T120具有高速、大面積的光學檢測系統,能夠快速檢測到掩模和晶片以及晶片上否則無法發現的缺陷。ICOS CI T-120具有多種高端功能,使其成為檢查掩模和晶片晶片的理想解決方案。該單元采用最先進的光學顯微光刻機，16k光學陣列用於高分辨率成像，允許機器視覺解決方案。此外,該工具還配備了功能強大的計算機處理器,可提供超高速分析和報告。KLA CI-T120提供了廣泛的檢查技術，包括亮場成像、暗場成像、電子顯微鏡和X射線衍射。利用這些技術，它可以檢測到諸如隔離缺陷、橋接缺陷、短褲、針孔和殘留物等缺陷。此外，它還可以檢測到與過程相關的缺陷，如過度蝕刻和底切。科索沃解放軍還包括一套自動化分析和報告功能，以減少檢查後審查時間。其可靠的高速掃描和圖像識別算法,以及功能強大的軟件平臺,可實現自動缺陷審查和報告。此外,直觀的用戶界面使用戶能夠快速識別和分析缺陷。KLA CI T-120是一個經濟的選擇，制造商希望檢查面膜和晶片。CI T-120具有先進的功能集和經濟的成本,是希望在競爭中保持領先地位的制造商的理想選擇。
還沒有評論