二手 KLA / ICOS CI-T120 #9247435 待售

KLA/ICOS CI-T120插槽檢測設備是一種基於成像的掩模和晶圓檢測工具。其高亮度、光學成像技術為用戶提供卓越的聚焦深度和圖像分辨率，用於IC掩模和IC晶圓檢測。KLA CI T120具有缺陷檢測、高精度、高吞吐量等先進功能,是口罩和晶圓生產線應用的絕佳選擇。ICOS CI T-120利用大磁場光學和直線探測器（DLD）,並根據預設增強3、4或5倍。其照明系統獨立於檢驗目標運作，使各種照明參數得以設定。對於需要更高分辨率的樣品，可以使用低倍率物鏡。KLA/ICOS CI T 120的高級軟件和硬件能夠集成各種檢查模式。它可以檢查和測量不同類型的對象,包括線、圓、正方形和區域。可以在檢查區域中自動檢測到隔離和/或連接的缺陷。檢測到復雜的缺陷，目的是盡量減少誤報，該單元能夠從多個角度分析缺陷。ICOS CI T120配備了強大的濾波器算法、內存系統和其他功能陣列,使機器能夠檢測到表面和地下缺陷。NV-Series Software （NVSE）是一個包含在過程檢查、後期處理、測量和註冊中的數字圖像的多功能一體服務軟件。CI T120樣本預期壽命5年以上，產率99.9%以上。它的設計結構緊湊,易於安裝。工具中的溫度由專用冷卻資產調節,其可變方向強制風冷出口設計為確保最佳空氣流動以散熱而不影響性能。CI T-120支持多種接口,包括USB、以太網和RS-232。它的高性能硬件和軟件（包括高端CPU處理器）旨在實現最大的靈活性和易用性。使用簡單的用戶界面,用戶可以輕松設置、監視和編程模型。CI-T120是一種高效可靠的掩模和晶片檢測設備,可為用戶提供高質量的圖像、快速準確的缺陷檢測以及高吞吐量。它支持高級硬件、軟件和功能,旨在滿足用戶對各種應用程序的高精度和高吞吐量要求。