二手 KLA / ICOS CI-T120 #9256279 待售

KLA/ICOS CI-T120掩模和晶片檢測設備是一種先進的成像解決方案，設計用於檢測用於先進半導體封裝的掩模和晶片。該系統結合了先進的光學和高靈敏度成像傳感器，提供卓越的性能和精確的缺陷檢查和分類。KLA CI T120有一個由透鏡和鏡子組合而成的光學單元。這樣可以確保捕獲非常高分辨率的圖像以創建詳細的檢查結果。此外,ICOS CI T-120還配備了用於直接檢測缺陷的高級傳感器陣列。傳感器陣列通過捕獲散布在樣品表面上的光中的陣列來工作,使其能夠檢測表面缺陷,如接觸孔、溝槽和其他特征。CI T120提供了優良的精度和靈敏度的缺陷.其高精度的模式檢測算法可以用亞微米分辨率檢測缺陷，實時報警操作員，減少人工檢測所需時間。此外,計算機還支持對同一個樣本拍攝的兩個圖像進行比較,這些圖像可用於識別兩個圖像之間的變化並提醒用戶註意潛在的缺陷。ICOS CI T120配備了最先進的圖像處理引擎。這允許工具將蒙版圖案調整到任何所需的方向,或修改任何特定圖像特征的對比度或亮度。資產還具有測量處理前後閾值水平變化以及對圖像應用濾鏡的能力，消除不需要的噪音以確保準確的檢查結果。KLA CI T-120利用數字庫存儲圖像和缺陷數據,使用戶能夠輕松地調用數據集並查看結果。它還可以通過Web或以太網連接遠程訪問,使其成為用於移動設備掩碼和晶圓檢查的可靠且安全的解決方案。總體而言,ICOS CI-T120掩碼和晶片檢測模型是一種功能強大且復雜的成像解決方案,旨在提供卓越的圖像質量和精確的缺陷檢測。這是一個極好的選擇，對於那些尋找一個可靠和安全的解決方案來檢查半導體封裝中使用的掩模和晶片。