二手 KLA / ICOS CI-T120 #9360771 待售

KLA/ICOS CI-T120 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種設計用於半導體工業的高度先進的精密測量工具。它能夠使檢查過程自動化，並提高整體準確性和效率。該系統由一個亮場激光成像工具組成，用於測量和檢查面罩和晶片上的各種特征，包括光學圖像、線條圖案和平面。它配備了一千萬像素的全彩色光學顯微鏡，設計用於提供各種設置的高分辨率圖像。該單元還提供了一系列高級功能,可用於自定義其性能,如可變數據捕獲、可編程參考配置以及幾種質量控制和缺陷檢測功能。KLA CI T120機旨在最大限度地提高生產效率。它提供快速、可靠和準確的測量,數據可靠性高達100%。該工具配備了獨特的「多軸模型」，可以測量晶圓大面積上的垂直和橫向特征，結合長距離顯微鏡和自動采樣級。此外，該資產還支持先進的圖像處理和特征檢測算法，從而能夠根據預定標準確定缺陷。ICOS CI T-120模型還提供了一系列功能,使半導體制造商能夠根據其特定需求調整其性能。這包括全光譜LED照明模塊和自動對焦級等功能,有助於更快、更準確地進行測量。它還配備了多合一集成數據捕獲設備，可以存儲最多8種不同配置的測量數據。ICOS CI-T120是一個用戶友好的系統,具有簡單的軟件控制和直觀的用戶界面。CI T-120 Mask&Wafer Inspection Unit是一種先進可靠的工具,旨在幫助半導體制造商最大限度地提高精度、速度和效率。它提供了一系列的特性和功能，可以根據用戶的特定需求量身定制。它結合了卓越的成像能力、自動化測量和先進的缺陷檢測算法,提供了卓越的精度和可靠性,並提供了巨大的投資回報。