二手 KLA / ICOS CI-T120 #9360928 待售

KLA/ICOS CI-T120是一種掩模和晶片檢測設備,可提供可靠、完整的檢測解決方案。該系統包含內置的XY級,允許在單元內放置晶片或掩模時進行精確控制。該機采用二維光學檢測儀，針對大面積和精細特征成像進行了優化。光學資產包括高精度電動XY級、遠心固定焦距光學鏡頭和Linescan或CCD相機。視場和對焦深度是可調的,允許對具有不同特征和厚度的晶片或掩碼進行最佳圖像采集。該型號配備了驅動照明控制設備、打印機/繪圖儀、圖像處理器和圖像分析單元的電源。照明系統的設計旨在確保整個視野的亮度均勻，消除任何不均勻現象，從而改善圖像質量，甚至檢測缺陷。打印機/繪圖儀允許加載路徑程序文件,並允許打印圖像以供查看。圖像處理器允許操作員調整參數，如閾值或灰度、對比度和放大倍數。它具有集成的圖像庫，可以將檢查圖像與參考圖像進行比較，以檢測任何偏差。圖像分析單元允許自動檢測缺陷,包括識別和測量缺陷。該單元具有較高的檢測靈敏度，可以檢測規格內和規格外的缺陷。它還具有高效的缺陷管理機器，允許操作員對缺陷進行審查和分類。KLA CI T120是一種可靠、全面的掩模和晶圓檢測工具，具有很高的精度和分辨率。它旨在檢測和測量非尺寸特征和尺寸特征,並且可以為特定應用程序輕松定制。其強大的體系結構使其成為缺陷檢測和測量應用的理想資產。