二手 KLA / ICOS CI-T120 #9407127 待售

KLA/ICOS CI-T120是一種自動掩模和晶片檢查設備,能夠以高達10,000倍的放大倍率對光掩模、微通掩模和半導體晶片進行高精度目視檢查。KLA CI T120使用最新的高分辨率光學器件,對晶圓和圖案化光掩模上的顆粒汙染進行自動缺陷審查和測量。該系統采用配有CCD攝像機的光學顯微鏡和先進的圖像處理算法，能夠在短短幾分鐘內實現高精度晶圓和掩模缺陷的檢測、分類和分析。自動對齊功能可確保準確註冊圖像,同時可針對不同類型的缺陷優化圖像處理設置。由於設備的靈活性,它可以支持更改或擴展要求,例如多個生產批次和變化的缺陷搜索條件。ICOS CI T-120包含高級自動化功能,以簡化檢查任務。自動對焦和自動校正功能確保從具有挑戰性的表面可靠檢測不透明顆粒和其他缺陷。直觀的軟件提供了一個易於使用的界面,具有強大的搜索功能,可快速查找特定的缺陷類型。拖放窗口可用於比較圖像區別並重新排列以快速準確地匹配檢查標準。機器的高級汙染和缺陷跟蹤功能旨在減少循環時間並幫助確保晶圓、掩模和屈服性能。綜合報告工具可自動生成定量缺陷數據（如等級、區域、計數和大小）的詳細分析,而內置菜單選項則允許用戶在幾秒鐘內查看、分析和導出數據。堅固而準確的KLA CI-T120掩碼和晶圓檢查資產提供了靈活性和自動化,可輕松處理不斷變化和擴展的需求。CI T120結合高分辨率光學技術和先進的圖像處理技術，對晶圓和光掩碼進行了精確的檢測，並進行了快速的缺陷檢測和分類。該模型的直觀軟件,以及先進的自動化功能,保證了快速可靠的結果-幫助客戶優化生產過程並確保卓越的產品質量。