二手 KLA / ICOS CI-T130 #293670281 待售

KLA/ICOS CI-T130是一種掩模和晶片檢測設備,旨在為缺陷檢測應用提供高通量和精度。KLA CI-T130將經過驗證的晶圓圖像采集技術與先進的缺陷檢測和分類算法相結合，為用戶提供了制造缺陷分析的強大工具。ICOS CI-T130系統配備了先進的光學成像系統,利用RGB（紅、綠、藍）光源獲得最大的圖像清晰度。這樣可以對晶片的2D表面和3D體積特性進行高清圖像捕獲,並以清晰和準確的方式測試Windows。此外，CI-T130擁有一個自動對齊器，以確保任何掩模或晶片的精確定位，便於精確掃描和缺陷檢測。KLA/ICOS CI-T130設施采用了最新的圖像識別技術,能夠快速準確地識別缺陷。此單元利用復雜的缺陷分類算法,結合模式識別功能,來識別、分類和存儲各種缺陷類型。KLA CI-T130機進一步能夠提供詳細的三維案例檢測和產品缺陷分析。ICOS CI-T130有助於快速采樣和處理數據,4英寸晶圓的采集時間僅為25秒。這一令人印象深刻的吞吐量速率使用戶能夠快速收集大量數據用於下遊分析,而停機時間最短。此外,對節能功能（如自動睡眠模式）的訪問意味著該工具在不使用時需要最低的能耗。CI-T130是制造商的理想解決方案,旨在實現業界領先的缺陷檢測性能。KLA/ICOS CI-T130資產利用高精度光學、先進的成像技術和復雜的分析算法來實現最高的生產力和準確性。這種自動化模型在成像能力以及缺陷分析算法方面都提供了卓越的性能,以實現前所未有的缺陷分析速度和準確性。