二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T120 #9149645 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T120 Mask&Wafer檢測設備是一種先進的半導體成像和檢測系統。它被設計用於在廣泛的掩模和晶圓表面上查明亞微米缺陷。KLA CI T120是一個光學檢測單元，是同類型的最先進的系統之一。它具有一個光場光學顯微鏡，設計用於精確檢查和檢測掩模或晶片上圖案區域內的粒子和其他缺陷。它利用先進的圖像處理算法，以極高的精度和各種測量技術來顯示缺陷，以幫助確保質量控制。ICOS CI T 120的機器利用先進的高分辨率圖像傳感器和優化的光學元件,可實現極高的放大倍率,提供分辨率小至0.5微米的3D成像能力。這種圖像分辨率和放大倍率已被證明有助於檢測和表征平板顯示器和集成電路圖樣上的粒子和其他缺陷。TENCOR CI-T120伴隨著3個軟件解決方案：CORE PartsFinder，提供缺陷的實時檢測和分析；缺陷分類的KXDI；和Check-It InSight軟件,用於評估和最小化圖像中的噪音。利用Teratech的圖像識別進行缺陷分析.在業績方面，TENCOR CI T120是市場上最好的之一。檢測速度快，缺陷覆蓋率好，吞吐量高。它是一種適合研究和生產用途的工具，因為它可以檢測晶圓或掩模上非常小的顆粒和其他缺陷。總體而言,KLA CI T 120掩模和晶片檢驗資產的設計旨在提供高分辨率、準確和可靠的解決方案,用於檢測各種掩模和晶片表面上的小顆粒和其他缺陷。其檢測速度快，缺陷覆蓋率好，是研究生產的理想選擇。