二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T130 #9389311 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T130是一種掩模和晶片檢測設備,旨在為檢測先進半導體晶片上的關鍵模式元件提供高性能和準確性。該系統提供卓越的光學圖像質量和分辨率，使全面的缺陷檢查。它配備了兩個晶片插槽，一個用於成像，一個用於模式驗證，以及高精度的圖像預處理和後處理功能，以確保一致的缺陷檢測和分類結果。KLA CI-T130是一個先進和通用的單元，旨在提供高速和準確的缺陷審查。它裝有高分辨率CCD相機，可以根據特定的成像要求量身定制。它擁有多種光學器件,能夠執行各種成像技術,如微缺陷捕獲、廣域捕獲、超高分辨率圖像和橫截面圖像。機器還包括兩個視頻通道,用於在顯示器或自動圖像分析工具上查看。該資產易於操作,並提供直觀的用戶界面,以減少設置時間並優化性能和準確性。用戶能夠通過交互式圖形菜單快速配置模型以進行高級缺陷檢查和查看。可選的軟件庫可以優化特定缺陷類的檢測,例如線缺陷、粒子缺陷、缺陷過程、密度級別和幾何變化。可以利用先進的處理算法來減少錯誤結果並提高檢測置信度。ICOS CI-T130具有廣泛的可選在線功能,可支持完整的檢查應用程序。這些功能包括掩碼配準、晶圓映射、原位預防性維護、過程補償和晶圓跟蹤。它還包括一個可選的高性能圖像處理軟件包,可增強數據采集。總體而言，TENCOR CI-T130是一種用於掩模和晶圓檢測的高能力設備。其先進的功能、強大的光學系統和精密的算法代表了技術創新的前沿，為制造商和測試工程師創造了理想的平臺。該系統的靈活性、易用性和準確性使其能夠作為一個完整的半導體檢測解決方案的基石。