二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T830 #293642451 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T830掩模和晶圓檢測設備是一種行業領先的工具，用於幫助檢測半導體生產過程中的異常。KLA CI-T830允許通過其先進的光學和成像系統對掩模和晶片進行精確和準確的審查。ICOS CI-T830具有一個多維光學單元,旨在分析芯片的幾個不同方面是否存在缺陷。這臺機器能夠一次檢查幾千個地點，並且能夠探測到非常微小的微粒。該工具使用精確的分析算法來區分誤報和實際缺陷。資產進一步利用兩個高度敏感的CCD，可以連續掃描直徑達25.4厘米的半導體晶圓。該模型能夠在比類似的非KLA系統短得多的時間內掃描，在一小部分時間內處理具有亞微米特征大小的芯片。CI-T830還采用了ICOS SignalPlus技術,該技術結合了多種成像方法來確定設計特征和工藝特征之間的差異,直至子解決方案級別。同樣,他們的WaferEdge技術在最終產品中出現問題之前,可以識別子差分極限邊緣未對準或芯片邊緣散焦問題。除了檢查外,TENCOR CI-T830還支持多種過程控制功能。這些特性允許設備在制造過程中用於提高產量和周期時間。該系統還兼容獨特的光學器件，以適應不同的技術，例如3D換能器或定制的納米粒。KLA/TENCOR/ICOS CI-T830是半導體生產過程中必不可少的寶貴工具。其精確、快速和通用的設備可以在生產缺陷成為昂貴的問題之前檢測到這些缺陷。對於廠家來說，這臺機器及時保證了可靠、優質的產品。