二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Archer 300 AIM #293604010 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX Archer 300 AIM是一種自動化的內聯掩碼和晶圓檢測設備,專門為高級技術節點量身定制。KLA Archer 300 AIM是為大批量生產而設計的最先進的系統。它是一種可靠且經濟高效的解決方案,用於檢查晶片和掩模的特征,如陣列缺陷、空隙、故障觸點和焊料缺陷。TENCOR Archer 300 AIM是需要高精度、世界級成像和X射線檢測能力的集成電路制造商的理想裝置。PROMETRIX Archer 300 AIM利用先進的X射線成像技術和一套先進的算法。這使機器能夠在不到15秒的時間內快速分析和識別晶圓/掩碼上的缺陷。該工具還能夠檢測100至600納米之間的特征。此外,該資產還能夠檢測空隙、線緣粗糙度和陣列缺陷。Archer 300的模塊化設計確保了最大的靈活性和可擴展性。該型號配備了四個刀頭，可以進行裝備和編程，以同時檢查多個口罩和晶片。Archer 300還包括一個集成的缺陷審查和分析站，允許操作員快速定位、分析和審查缺陷。Archer 300配備了先進的自動缺陷分類設備。此高級軟件包能夠近乎實時地識別缺陷並指定嚴重程度等級。此外,Archer 300 AIM采用直觀的用戶界面進行設計,使技術人員能夠快速選擇和修改檢查設置。為確保最佳性能,KLA/TENCOR/PROMETRIX Archer 300 AIM的設計符合令人印象深刻的環境規格。系統能夠承受高達35°C的溫度。這確保了Archer 300能夠檢測到各種環境條件下的缺陷。此外,此設備還提供終身軟件預訂,確保您的Archer具有最新的檢查功能。KLA Archer 300 AIM是一款先進且功能強大的面罩和晶圓檢測機。這種先進的自動化解決方案是一種可靠且經濟高效的方法,可以快速高效地檢查口罩和晶片是否存在各種缺陷。TENCOR Archer 300 AIM憑借其先進的算法和直觀的用戶界面，是實現產量最大化和優化效果的理想選擇。