二手KLEO(光罩與晶圓檢測)待售

KLEO是一家專門生產口罩和晶圓檢驗設備的制造商。它們的產品用於半導體工業的質量保證和缺陷檢測。KLEO提供了一系列檢查系統，旨在滿足掩模和晶圓檢查過程的嚴格要求。來自KLEO的掩模檢查單位配備了激光掃描、智能圖像處理、缺陷分析算法等先進技術。這些機器能夠準確檢測和分類光掩模上的缺陷，確保高精度和可靠性。來自KLEO的晶圓檢測工具利用先進的光學和傳感器實現了精確的缺陷分類和檢測。其中一個值得註意的產品從KLEO是LDI CM 20，這是一個激光直接成像系統的掩模制造。該系統允許將圖樣直接傳輸到光掩碼上,從而消除了對光掩碼制造步驟的需求,並提高了工藝的整體效率。LDI CM 20以其高分辨率的能力、速度和準確性而聞名。KLEO的掩模和晶圓檢測資產的關鍵優點包括靈敏度高、缺陷檢測快速準確、缺陷分類算法高效、易於集成到現有制造工藝中。這些模型幫助半導體制造商提高產品質量，降低生產成本，提高產量。總之，KLEO的掩模和晶圓檢測設備以其先進的技術、精確度和效率而受到半導體制造商的信賴。LDI CM 20是其產品系列中的一個突出示例,具有用於掩模制造的激光直接成像方面的卓越功能。