二手 KRAUTKRAMER USK-7B #293667707 待售

KRAUTKRAMER USK-7B是一種用於200mm-450mm直徑晶圓和口罩的生產測試的口罩和晶片檢測設備。它采用高分辨率成像系統和高速圖像處理裝置，對掩模和晶片表面發現的缺陷和不規則性提供可靠的測試結果。USK-7B臺機器的視野為710 x 710mm,最大圖像分辨率為1024 x 1024像素。它具有高靈敏度的第四代CCD圖像傳感器,具有可調的曝光時間,可捕獲晶圓和掩模表面的細小和粗糙缺陷。圖像處理工具使用高速數字信號處理器（DSP）來分析拍攝的圖像，將其與參考圖像進行比較，並檢測蒙版和wafe表面的任何不規則性或缺陷。KRAUTKRAMER USK-7B配備了明亮的LED環形照明器，它在面罩和晶圓表面提供均勻的照明，允許對面罩和晶圓進行清晰、精確的檢查。其強大的光學資產包括一個大的物鏡，允許對許多不同種類的缺陷進行成像，包括晶圓和掩模表面上的微缺陷和粘性缺陷。該模型的復雜模式識別技術能夠分析缺陷分布,有助於確定潛在的過程問題。USK-7B還配備了一個可選的厚膜測量單元,該單元能夠測量晶圓和掩模上的厚膜（超過10微米的厚膜）的高度。這有助於在批量生產之前確定光刻工藝的任何潛在問題。KRAUTKRAMER USK-7B除了具有高靈敏度的成像和處理能力外，還包括一個用戶友好的界面，便於操作和控制。生成的報告可以以多種格式導出,並保存起來供歷史參考,USK-7B成為半導體生產質量控制的理想工具。