二手 KRAUTKRAMER USK-7B #9074828 待售

KRAUTKRAMER USK-7B是為半導體掩模車間和後端晶圓檢測應用而設計的下一代掩模和晶圓檢測設備。它具有直觀的用戶界面、最先進的光學和精確的光學對準功能。USK-7B利用CD-SEM系統像素響應優化,提高了靈敏度和分辨率,並以近乎實時的速度呈現晶圓圖像,以進行精確識別和缺陷定位。其先進的光學能力有助於檢測和分析各種缺陷，從淺層表面缺陷到深埋缺陷。KRAUTKRAMER USK-7B還具有三個具有6D能力的DED（模換模）檢測功能,可以對缺陷檢測過程提供更高的置信度。USK-7B融合了創新的光學技術以實現卓越的成像。它具有大於0.38的超高NA,能夠分辨率高達0.7 μ m。KRAUTKRAMER USK-7B包括對光學成像子系統的幾項改進，包括一個全重要的多通道分割場邊緣檢測單元和可調像素圖形，以提供更精確的缺陷分析。此外，它的高分辨率光譜成像可以更清晰地檢測即使是最小的缺陷。USK-7B提供了一個簡單的用戶界面，可以方便地導航和操作機器。直觀的4.3英寸彩色觸摸屏允許快速設置檢查和審查結果。此外,支持高級圖形的GUI還提供文本或圖形格式缺陷數據的可視化,以便於解釋。該工具包括允許用戶自定義其設置以適合任何特定應用程序的配方選項。KRAUTKRAMER USK-7B提供了一個穩定可靠的平臺,旨在承受生產車間環境的嚴酷。該資產由一系列重型部件組成，包括工業級控制器和硬件，以及帶有工業級冷卻風扇的高速成像處理。它還包括一套軟件升級,以確保最準確的功能,包括測試配方和自動校準選項。USK-7Bmask晶片檢驗模型是一種先進的設備，旨在滿足要求最苛刻的掩模公司和半導體檢驗。憑借其高的光學能力、直觀的用戶界面以及卓越的缺陷分析成像保真度，USK-7B為掩模制造商和半導體行業提供了最敏銳可靠的檢測系統。