二手 KURODA Nanometro 450TT #293645313 待售
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KURODA Nanometro 450TT是一種高度先進的掩模和晶圓檢測設備，將超高分辨率成像和測量與可見光和紅外線相結合。它旨在徹底檢查和分析制造半導體器件所需的口罩和晶片的圖案、形狀和缺陷。納米450TT結合了先進的光學、先進的計量和圖像采集技術以及軟件分析程序，提供高分辨率的成像和測量能力。該單元包含的成像系統能夠提供高達265百萬像素的分辨率圖像，即使是面罩和晶片中最小的缺陷和幾何特征也能提供無與倫比的細節。利用這些技術，KURODA Nanometro 450TT能夠進行廣泛的測試和分析，包括表面缺陷檢查、圖樣登記檢查、叠加測量、標線登記檢查和成分分析。在表面缺陷檢測方面，納米450TT能夠檢測到面罩和晶片上最小的缺陷和雜質。該機可以測量0.07微米的最小線條和空間，使其能夠以最精確的方式檢測甚至最小的缺陷和形狀。此外,該工具還能夠檢測和測量位移和位移角度,其測量值可低至0.1埃,從而能夠對幾何特征進行極其精確的分析。最後，該資產還可以提供全面的材料分析，通過測量全面積運動特性、粒子分析、表面粗糙度和濕度以及正負材料應力。KURODA Nanometro 450TT利用神經網絡進行模式識別，能夠以每秒1000條微線測量和檢測模式。該模型還可以測量覆蓋偏移，精度低至1納米，使光譜覆蓋分析成為可能。此外，該設備可以測量面罩和晶片的角度，低至1毫弧度，允許高度精確的定位。最後，Nanometro 450TT還具有直觀和用戶友好的圖形用戶界面，允許系統的簡單和直觀的操作。此外,還可以對設備進行遠程控制,從而提供最大的靈活性和便利。總之，KURODA Nanometro 450TT是一種非常先進的掩模和晶圓檢測機，能夠提供無與倫比的分辨率和準確性。該工具結合了先進的光學、計量和圖像采集技術以及復雜的軟件分析程序，以便能夠對掩模和晶片進行全面和高度精確的檢查和分析。此外,用戶友好的圖形用戶界面使資產易於操作且直觀,從而提供了最大的便利和靈活性。
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