二手 KURODA Nanometro #196389 待售

KURODA Nanometro是下一代的掩模和晶圓檢測系統，專為方便地快速準確地測量和分析納米級結構而設計。該設備能夠以高達10nm的高分辨率自動檢查，同時仍然能夠測量更大的結構和缺陷。它是可配置的，包括一個獲得專利的數據處理算法，允許高精度地檢測和表征納米級缺陷。利用Nanometro，可以在短時間內完成結構和缺陷表征。KURODA Nanometro的關鍵特性包括高精度和速度。高速雙像素技術實現了高精度測量。這與先進的算法相結合，即使在較高的放大倍率下也能快速檢測到細微的缺陷。檢查系統提供多種掃描模式,以適應不同大小和類型的對象。用戶友好的用戶界面可輕松控制掃描頻率和掃描模式等成像參數。該單元還包括一個帶有實時圖像處理和圖像分析工具的軟件包。這允許用戶快速參數化機器並實現數據的精確表示。Nanometro體積小巧,重量輕,易於集成到現有的測試裝置中。它內置的缺陷庫可確保可重復性,從而限制了查找缺陷所需的時間。缺陷庫允許用戶保存、審閱數據並將其導出到中央存檔以供將來參考。此外,該工具具有低噪聲功能,無需使用降噪系統或任何附加硬件,從而降低了總體成本。總體而言，KURODA Nanometro是最重要的速度和精度項目的理想選擇。Nanometro具有卓越的用戶友好性和易集成性、先進的成像功能以及缺陷庫,無疑是檢查納米級特性的絕佳資產。