二手LEICA(光罩與晶圓檢測)待售

Leica是一家著名的面膜和晶圓檢驗設備制造商，提供具有創新功能和先進技術的多種類似物。這些檢查系統旨在確保半導體制造過程中使用的集成電路和光掩模的質量和可靠性。其中一款旗艦機型是INS 3000，這是一種高分辨率的檢測系統，能夠準確可靠地檢測光掩模和晶片上的各種缺陷。它結合了先進的成像和模式識別技術，允許快速和精確的缺陷檢測。INS 3000提供了卓越的缺陷靈敏度和吞吐量,使其適用於大批量生產環境。另一個值得註意的型號是INS 3300，一種專門為高級光掩模設計的掩模檢查系統。它具有強大的雙模檢測能力，能夠同時檢測圖樣缺陷和顆粒。INS 3300提供出色的檢測靈敏度和高速掃描,以滿足尖端半導體制造的苛刻要求。為了更具成本效益的檢查需求,Leica提供了INS 2000系統。它為光掩模和晶片提供了可靠和高效的檢查，重點是檢測臨界光刻工藝缺陷。INS 2000可確保高速檢查而不影響準確性,因此非常適合中端批量生產設施。總體而言,Leica的掩模和晶片檢查裝置具有許多優點,例如卓越的缺陷檢測靈敏度、高通量和先進的成像技術。這些機器廣泛應用於半導體行業，以保證集成電路的質量和產量，確保各種電子器件的最佳性能和可靠性。