二手 LEICA / LEITZ MIS 200 #293615353 待售

LEICA/LEITZ MIS 200是為精密半導體器件制造而設計的高度先進的掩模和晶圓檢測設備。它利用高分辨率成像和檢測技術，確保所有缺陷和外來粒子被識別、隔離和記錄。這種自動檢查系統為同時分析和表征幾層缺陷和顆粒提供了一個總體解決方案。檢測單元的內置硬件和軟件配置可以快速檢測、交叉匹配和分析掩碼和晶片模式。它還具有廣泛的自動化能力，包括自動晶圓對準、晶圓旋轉和調節。機器高度可配置,允許用戶自定義滾入工具以滿足特定的流程需求。LEICA MIS 200采用高分辨率成像實現亞微米精度，並采用全集成自動工具進行更快、更精確的晶圓檢測。它還帶有高速測量、缺陷和粒子表征以及缺陷定位的專有算法。一種先進的缺陷類型識別算法允許缺陷自動標記和缺陷分類。該資產為設計、編輯和分析檢驗結果提供了強大的軟件。直觀的GUI有助於簡化和簡化整個過程。LEITZ MIS 200還支持多層數據審查和分析,因此用戶可以快速識別和定位缺陷。除了先進的硬件，MIS 200還附帶了全面的服務包。這些措施包括現場幹預、預防性維護、審計和流程分析。這樣可以確保客戶受益於長期服務和快速解決任何問題。總體而言,LEICA/LEITZ MIS 200提供了一個高級的總解決方案,可用於精確的掩模和晶圓檢查及表征。其可配置的硬件和軟件，加上全面的服務包，使其成為滿足半導體器件制造需求的理想選擇。