二手 LEICA / VISTEC INS 3000 DUV #9047301 待售

LEICA/VISTEC INS 3000 DUV是一款高性能的掩模和晶片檢測設備，設計用於檢測最先進晶片級的缺陷。該系統采用高分辨率圖像傳感器、高級光學器件和高級控制算法來掃描掩模或晶片的邊緣和表面,以確保完全無缺陷的質量。該設備能夠檢測小至10nm的缺陷,像素大小為4微米。機器的高級光學器件可實現高分辨率成像,確保檢測和識別掩模或晶片表面存在的任何缺陷。它可以產生分辨率高達1200萬像素的圖像，提供準確的檢查，有助於查明否則很難發現的違規行為。該工具還具有6.5毫米的最大視野，提供了廣闊的檢查區域。資產還具有一個專有的控制算法，允許檢查過程完全自動化。這樣，檢查員可以快速設置和定制模型，以適應不同的圖案大小、形狀和方向。這有助於減少與掩碼和晶圓檢查相關的任何耗時和繁瑣的任務。算法還允許對檢查過程進行精確的速度控制，允許用戶在不影響精度的情況下提高吞吐量。同時，設備具有保護檢測完整性的內置安全特性。例如,它具有自動關機功能以最大程度地減少功耗,以及可根據用戶要求設置的自動關機系統。該裝置還被設計為在危險環境中使用的安全裝置，因為它經認證符合CE、FCC和UL的國際安全標準。此外，機器還附帶了一個易於使用的軟件包，提供了結果的詳細視圖。用戶可以自定義該工具以滿足他們的需求,因為它包括各種參數,例如模式大小、檢測算法和速度設置。從檢查中獲得的數據可以很容易地導出成流行的圖像格式，從而可以對數據進行進一步的處理和分析。總體而言,LEICA INS 3000 DUV是一種高性能掩碼和晶圓檢測資產,可提供高精度,有助於確保完全無缺陷的質量。其先進的光學和專有的控制算法允許檢查過程的自動化和提高生產率，而其安全特性提供了額外的保護層。所有這些特性使該模型成為任何檢驗或質量控制應用的可靠和高效的工具。