二手 LEICA / VISTEC INS 3300 2ei #9206797 待售

LEICA/VISTEC INS 3300 2ei是一款最先進的口罩和晶圓檢測設備，旨在滿足半導體行業的最高質量保證標準。它是一種先進的自動檢測技術，用於從開發、原型階段到生產階段對半導體材料進行精確缺陷分析。該系統采用先進的光學和成像技術，捕獲被高速掃描和處理的掩模和晶圓表面的數字圖像。與各種系統兼容，提供全面的4D檢測能力，視野高達17.6mm。該軟件具有集成的AI和模式識別技術,可實現自動模式識別和缺陷檢測/分類。利用先進的3D縫合技術,用戶可以以亞微米的精度捕獲圖樣的自上而下和側視圖像。LEICA INS 3300 2ei還提供了廣泛的高靈敏度成像和分析工具，以確保缺陷檢測的最大精度和可靠性。通過高速、低噪聲檢測過程確保檢測時間最短。綜合缺陷分析包括缺陷定位、側視圖分析和測量，這要歸功於先進的算法。用戶友好的圖形界面提供了對設備設置的完全控制,並允許配置流程參數以滿足不同的要求。軟可編程參數是工藝優化的理想選擇，能夠快速適應產品組合的變化。該機還可以集成到線路監控系統中，以實現完全可追蹤性。綜上所述，VISTEC INS 3300 2ei是專門為半導體行業設計的先進的掩模和晶圓檢測工具。它結合了強大的成像和分析能力以及全面的缺陷分析,非常適合高質量的生產過程。自動可編程功能使資產性能的設置和維護變得容易，集成到線路監控系統中使其適合追溯。