二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #191088 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片檢查設備設計用於使用模塊化高靈敏度檢查工具快速檢查平版印刷掩模和晶片。該系統非常適合檢查半導體產品的制造後和後期構建設計周期,幫助確保單個元件和組件符合產品完整性和可靠性的規範,以及在維修/返工操作期間。LEICA INS 3300檢測儀使用自動化的全場成像機提供高速和高分辨率成像。該工具由CCD攝像機提供動力,該攝像機能夠同時捕獲2D和3D圖像,並利用可精確對準掩模和晶片的電動晶片級。自動化的圖像縫合技術可確保以任何速率或模式連續檢查整個區域,從而減少檢查站點的數量,同時提高圖像性能。VISTEC INS 3300資產還提供了多種高性能軟件工具,用於對捕獲的圖像進行後處理和分析。軟件包括用於快速識別異常的缺陷分類算法、用於突出缺陷特征的對比度優化工具，以及允許用戶調整顏色和對比度水平以增強分辨率的功能強大的光學濾鏡。用戶還可以應用各種圖像分析工具來識別和查看蒙版和晶片上的目標缺陷。INS 3300型號先進、用戶友好的界面為定制檢查體驗提供了廣泛的功能和選項。該設備提供自動捕獲和分析工具,使用戶能夠設計定制的檢查例程,其參數可配置為優化檢查過程。此外，該系統還提供了一個強大的報告工具，能夠記錄和審查檢查數據。總體而言，LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶圓檢驗裝置為半導體產品和任何其他要求準確性和速度的生產要求提供了可靠和全面的檢驗能力。憑借其高分辨率的成像、先進的軟件工具、易於使用的界面和可定制的功能,該機器是任何檢查或質量過程的理想選擇。