二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #293595578 待售

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 293595578
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC INS 3300蒙版及晶圓檢驗設備是半導體制造行業的全自動、高精度成像及缺陷審查系統。該設備旨在提供最大的生產力、準確性和可靠性,同時為客戶提供更好的產量、吞吐量和質量。機器由電動舞臺和電動變焦光學、成像處理器電子和分析工具組成。它旨在為掩模和晶片提供卓越的微觀成像,對掩模和晶片表面進行極高分辨率成像。它能夠檢測和輸出各種缺陷大小、形狀和位置上的高對比度和低對比度缺陷。該工具利用光學近似校正(OPC)成像技術來成像掩碼和晶圓布局特征。這種技術可以精確地對小尺寸小至5微米、高分辨率和低噪聲的特征進行成像。該資產還能夠進行抄寫員線成像,以準確監測過程變化。該模型能夠產生高放大倍率(掩模為40倍,晶片為50倍)和低放大倍率(掩模為40倍,晶片為25倍)圖像。高放大倍率圖像用於缺陷分類,低放大倍率圖像用於過程反饋。圖像可以多種格式存儲,包括TIFF、JPEG和PNG。LEICA INS 3300設備的設計非常方便用戶,具有易於使用的工具和直觀的界面,使其易於設置和操作。直觀的GUI設計使系統更易於使用,並為用戶提供了對設備設置和配置的更大控制。VISTEC INS 3300機器旨在為客戶提供最高質量的成像和檢測功能,同時還提供最高的吞吐量和最高的工作效率。該工具既經濟高效又可靠,允許客戶減少資本支出,同時保持最高質量的圖像輸出。INS 3300 Mask&Wafer Inspection Asset憑借其先進的技術、自動化的功能和用戶友好的設計,是尋求提高質量、吞吐量和產量的半導體制造商的理想解決方案。
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