二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9043662 待售
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ID: 9043662
晶圓大小: 8"
優質的: 2003
Wafer inspection system, 8"
Hard Disk Drive (HDD) missing
2003 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300是為自上而下或自下而上的檢查而設計的多功能面罩和晶圓檢測設備。它通過模塊化和可擴展性提供了最大的靈活性,使用戶能夠從基本配置開始,並隨著時間的推移添加高級選項以適應不斷變化的需求。該系統能夠進行各種檢查，其最大分辨率為0.25 µm，其全曝光範圍為0.8-6.5keV。諸如Depth of Focus Control （DoFC）和90°自動縫合等功能使其非常適合檢查地形不均勻或表面具有挑戰性的樣品。LEICA INS 3300配備了一個多功能級，可容納兩個200 mm或一個300 mm晶片，並提供多晶片映射的自動對準以及兩次檢查同一晶片的能力。它還可以容納多種面罩尺寸，帶有可調節的可移動面罩臺，可以同時容納正極性面罩和負極性面罩。高端自動化功能和缺陷審查功能為用戶提供了識別和分類缺陷的強大而高效的工具。此外，該裝置還提供了一種通用和先進的機器，用於測量圖樣或基板的電氣和光學特性。這包括自動化電氣測量系統，如數字模式分析（DPA）和數字圖像掃描儀（DIS），使用戶能夠快速捕獲和分析電氣圖像。這些系統也可用於光電測量，通過與多波長光掩模對準器相結合。總體而言，VISTEC INS 3300是一款功能強大、用途廣泛、易於使用的掩模和晶圓檢測工具。它能夠進行各種檢查，可以隨時適應不斷變化的需要。它非常適合尋找一種可靠但成本效益高的資產的實驗室,以便對最復雜的模式和底物進行快速而準確的分析。
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