二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9043674 待售
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LEICA/VISTEC INS 3300是一種掩模和晶片檢測設備，設計用於分析半導體掩模和晶片，用於制造產量、缺陷檢測和故障分析。它是一個全自動、高速的成像和檢查系統,結合了出色的分辨率和高通量,同時確保所有缺陷都正確分類,而不會出現誤報。該裝置使用一個1300萬像素的自動CMOS傳感器，該傳感器以1倍的視場放大倍率快速捕獲掩模/晶片的圖像，以便進行深入檢查。它還提供多視圖檢測來識別和分類潛在缺陷。通過自動調整光照水平和曝光時間，機器確保準確和一致的圖像捕獲和檢查結果。該工具能夠在透射和背面照射中檢查掩模/晶片。此自動照明過程提供一致的光強度和照明角度,從而確保以相同的精度和分辨率檢查掩模/晶片上的所有特征。該資產配備了圖像工具箱軟件，允許數據分析和編程。基於該軟件，可以對模型進行校準，以檢測各種特征，分析圖像的缺陷，並報告結果。該軟件還支持數據存檔、alpha粒子映射和缺陷分類。Inspect 3300的先進技術使其成為需要系統、統一檢查其口罩和晶片的制造商的理想選擇。它配備了精密光學、軟件和硬件組件，旨在提供最大精度和速度。而且，其先進的成像和檢測能力使其成為高需求應用的合適選擇。
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