二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9099590 待售
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LEICA/VISTEC INS 3300是為半導體工業設計的最先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統結合了先進的技術、能力和性能的獨特組合，提供了高度可靠的掩模和晶圓檢測結果。該單位先進的檢測技術可以檢測到約0.20微米或更小的缺陷，使其成為最精確的面罩和晶圓檢測系統之一。LEICA INS 3300機器能夠測試一系列不同的基材，包括石英、玻璃、矽和其他大多數半導體材料。其高精度光學工具提供卓越的圖像質量和分辨率，使其適合極小的特征尺寸。該資產配置了高分辨率12兆像素CCD傳感器和自動聚焦,有助於提高成像性能。該模型采用高速方式的自動化階段,掃描速率高達每秒100 × 100 μ米。它有一個集成的晶圓級，方便可靠的晶圓處理和對準。設備還配備了可配置不同晶圓尺寸和曝光的大功率照明系統。該設備由基於Linux的操作系統和功能強大的奔騰處理器提供動力,為數據處理和分析提供足夠的性能。該機具有直觀的用戶界面和簡化操作和數據分析的高級軟件。GUI采用彩色編碼,可快速高效地查看結果。VISTEC INS 3300包括臨界尺寸（CD）工具、邊緣檢測（ED）工具、OPC工具和缺陷檢測等高級檢查工具。它能夠檢測各種類型的缺陷，如顆粒、劃痕、凹坑以及缺失的金屬或氧化物層。該工具還提供了廣泛的糾錯選項和精密的算法，可以準確定位和標記缺陷。該資產被設計為在惡劣的工作條件下高度可靠和耐用，同時提供卓越的準確性、速度和可重復性。該車型的環保設計也有助於降低功耗。INS 3300是一款功能強大、可靠的掩模和晶圓檢測設備，非常適合任何半導體制造工藝。
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