二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9174843 待售

ID: 9174843
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 2006
Wafer inspection system, 8"-12" 2006 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300是一種高度先進的掩模和晶圓檢測設備。它使用自動晶片檢查和消色差尺寸測量來識別和糾正掩模或晶片中的任何缺陷。系統的三維成像能力提供了掩模或晶圓當前結構的高分辨率地形圖像。該裝置專為自動化操作而設計,並配有獨特的自動對準功能,以確保一致的成像結果。機器還配備了多種算法,可以自動分析數據,檢測任何缺陷。這些算法設計用於檢測粒子缺陷、表面不規則、模式缺陷和縮放問題。該工具既支持向資產手動輸入晶片,也支持使用機器人晶片處理程序自動加載。自動裝載機能夠一次性放置多達50個晶片。該機設計為連續運行,用於大型生產運行。此外,該模型還配備了統計過程控制(SPC)包,用於跟蹤性能和結果。此SPC軟件包提供實時數據,使用戶能夠在對生產產生負面影響之前查看趨勢並發現可能的問題。所有這些數據都可以通過用戶友好的GUI訪問。使用LEICA INS 3300,用戶能夠準確測量晶片上和整個基板上的關鍵尺寸。設備精確到亞微米級,收集到的數據通常用於過程控制和表征。VISTEC INS 3300是一種高度先進的檢查系統。它提供具有獨特自動對齊功能的自動化操作,提供掩模或晶圓結構的高分辨率地形圖像,並具有多種自動檢測任何缺陷的算法。此外,它還配備了一個統計過程控制包,用於跟蹤性能和結果,以及測量晶片上和整個基板上的關鍵尺寸的能力。簡而言之,INS 3300提供完整、準確、高效的掩模和晶片檢查。
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