二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9192641 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是為半導體研究和制造而設計的高精度、自動化的掩模和晶圓檢測設備。它能夠處理從8英寸（20.5厘米）到12英寸（30.5厘米）的掩模尺寸,提供光學和X射線檢查。光學檢查采用高度靈敏的科學級CCD相機和可互換鏡頭系統，自動檢測劃痕、特定部位缺陷等缺陷。LEICA單元註重最高精度水平，同時使用動態視頻自動測量（DVAM）技術和先進的計算機軟件來確保檢測和測量的準確性。對於X射線檢查,LEICA INS 3300具有最先進的微焦點X射線源和可變的斑點大小,可用於特異性缺陷成像。此外，該機能夠檢測矽片的層間缺陷和埋藏缺陷，非常適合先進的工藝。使其成為頂級檢測工具的其他功能包括全高清液晶顯示器、觸摸屏控制面板和高級晶圓處理資產。高端檢測模型還具有自動對齊校正尖端集，用於對齊多種圖案。數據可以通過USB和軟件接口快速傳輸，數據也可以下載到計算機上進行進一步分析。最後,VISTEC INS 3300可定制的用戶界面、自我診斷程序和自動警報使其成為簡化檢查過程的用戶友好設備。INS 3300憑借其可靠的性能、全面的缺陷檢測、高精度的精確度，是半導體行業應用的高效、經濟高效的掩模和晶圓檢測系統。