二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9195365 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是一種多功能的掩模和晶圓檢測設備。該系統提供計量級功能,用於對顏色和高分辨率圖像進行光學檢查,以及對半導體工藝的所有階段進行尺寸和高精度測量。LEICA INS 3300的靈活設計滿足了高度自動化生產環境不斷變化的需求。VISTEC INS 3300對各種尺寸的晶片和掩模提供高精度、非接觸式光學檢查。該裝置采用自動聚焦、縫合、光學缺陷檢查、基準對準和基準測量，以確保掩模和晶片的精度。機器可以自動檢測光學和掩碼缺陷，允許用戶快速識別和糾正生產過程錯誤，避免耗時的標線翻拍。該工具提供精確的測量以確認遮罩形狀的準確性。高度敏感的成像傳感器在X軸和Y軸上提供亞微米分辨率,而14位A/D轉換器可確保Z軸上的精度。此外，2D和3D曲面分析算法提供了掩模特征的輪廓映射，以確保臨界尺寸精度和缺陷檢測。此外,INS 3300使工程師能夠同時檢查多個掩碼,從而減少了對多次重新測量的需求。多掩碼檢查功能支持從多個來源同時檢查掩碼,從而實現更快的周轉時間和更高的生產可靠性。總而言之,LEICA/VISTEC INS 3300為半導體元件制造商提供了一套功能強大、用途廣泛的功能。其計量級的準確性、精確的自動化測量功能以及並行的多掩模檢查功能使其成為尋求改進產品質量和可靠性的組織的理想資產。而且，其靈活的設計以其自動聚焦、縫合、光學缺陷檢測、基準對準、基準測量等能力滿足了不斷變化的大容量半導體行業的需求。