二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9196670 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片檢測設備是一種先進的檢測系統，旨在檢測集成電路掩模和晶片的缺陷。該設備能夠實時顯示生產線上的缺陷，同時協助最終用戶糾正根源。利用最新的模式和拓撲識別技術,這臺機器能夠檢測到各種結構幾何中的各種缺陷,從而確保產品的高質量。LEICA INS 3300工具擁有300萬像素高分辨率相機和300 mm鏡頭。這種強大的成像解決方案與復雜的圖像處理算法相結合,使資產能夠檢測到最復雜模式中的微小缺陷。對攝像機傳感器和圖像處理算法進行了優化，以實現對表面拓撲條件的超精確評估，為用戶提供了無與倫比的分析細節層次。模型的高級模式識別功能使其能夠快速識別任何缺失或錯位的特征,或任何物理缺陷,如劃痕、顆粒、蝕刻坑等。該設備能夠以4,000像素/秒的速度進行掃描,提供高吞吐量和快速周轉時間。除了提供快速缺陷檢測，VISTEC INS 3300掩模晶圓檢測系統直觀易用。設備的用戶界面是為方便導航而設計的，使用戶能夠完全控制檢查設置和過程。用戶界面還包括功能強大的統計功能,使用戶能夠快速高效地執行復雜的分析,以識別與生產或流程相關的問題。INS 3300機設計了集成的反饋控制系統，使其能夠根據傳入信號自動調整。這樣可以確保設備繼續可靠地、準確地檢測到輕微的缺陷,而無需手動調整。最後,該工具包括一組功能強大的安全功能和工具,用於保護正在處理的敏感數據。受高級訪問控制、數據加密和防火墻網絡連接的保護,LEICA/VISTEC INS 3300資產中的數據安全性是一流的。總之,LEICA INS 3300掩模和晶圓檢測模型是一種先進但用戶友好的缺陷檢測設備,能夠準確、可靠、安全地有效檢測各種缺陷。