二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9200027 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

LEICA / VISTEC INS 3300
已售出
ID: 9200027
優質的: 2005
Wafer inspection system 2005 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300面罩和晶片檢查設備是用於檢查和表征照片面罩和晶片的前沿專用檢查系統。該單元的設計目的是利用自動ADC(檢查和測量算法)以及先進的平面外測量技術。該機具有獨特的自動掩模檢查過程,可進行平面內膜厚度分析,以及對整體掩模特性性能的過程中檢查。該工具配置有光學組件、示例級和大功率CCD攝像機。自動檢查員配備激光定位器和可移動頭部。掃描和測量功能允許自動對齊,並具有高級故障查找過程,以提高準確性和更高的吞吐量。該資產還可以為各種尺寸的晶圓和相關材料提供晶圓平坦度和缺陷特性的詳細映射。晶圓成像由光學和X射線顯微鏡相結合支持,以接近原子分辨率獲取圖像。映射分辨率也足以進行詳細分析,從而可以確定晶圓上的表面地形和缺陷位置。在工藝控制方面,LEICA INS 3300采用專業級反饋控制來管理晶片和材料的溫度和功率生產。這樣可以確保獲得最佳圖像,同時提供晶圓上特征交互的精確地形級別。該模型是按照最嚴格的質量標準制造的,並確保達到最高精度的樣品。此外,它還可以處理要求最苛刻的檢查和測試環境,具有與外部系統通信的ASCII/RS232接口,以及用於增強設備組件保護的堅固的環境圍欄。總體而言,VISTEC INS 3300蒙版和晶片檢查系統是一個高級設備,用於對照片蒙版和晶片進行高級檢查和鑒定。它結合了自動檢查、測量和反饋控制功能,為高精度成像結果創建了可靠高效的機器。
還沒有評論