二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9200028 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片檢驗設備是檢測和評估包括半導體晶片、掩模和平板在內的各種基板缺陷的強大而可靠的工具。它具有先進的光學亞微米分辨率以及自動映射和分析功能,非常適合檢測極小的缺陷和低對比度區域,否則很難檢測。該系統專為高通量生產環境而設計，每小時可處理數百個樣品。它具有全面的自動檢查任務,包括自動缺陷表征、自動模式識別和自動缺陷檢測。設備的高分辨率成像功能使用戶能夠檢查所檢查基板上的所有設備和互連功能。機器由幾個組件組成。「掩碼排列工具」使用戶能夠設置檢查以識別掩碼上的結構,以便與相應的圖像進行比較。Workbench是用於管理所有檢查任務的控制界面。自動掃描定位器可在視場內精確、高速地移動掩碼。該工具的檢查技術從多種「白光」照明技術到紅外，以及專門的照明模式。該資產還配備了專門的算法，能夠自動檢測模具和焊球缺陷。此外，該模型可配置為對堆叠模具進行層壓檢測。該設備設計用於處理各種基板，從非半導體材料到超靈敏內置電阻。這種多功能性使得該系統適用於生物醫學、納米技術、航空航天、光學等行業的廣泛應用。檢查結果顯示在設備的用戶界面上,用戶界面顯示結果的直觀和交互式圖形表示。這包括易於發布的缺陷圖和提供有關測試參數和缺陷結果的詳細信息的自動缺陷報告功能。LEICA INS 3300 Mask&Wafer Inspection machine是一種先進可靠的缺陷檢測和分析工具。它的自動化功能加上高分辨率成像功能，使用戶能夠檢測到各種基板中非常小的缺陷和低對比度區域。此外,該工具的用戶界面提供了缺陷的直觀和交互式圖形表示,使缺陷分析和報告成為一項簡單而簡化的任務。