二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9225703 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是利用高分辨率成像檢測硒基半導體元件缺陷的掩模和晶圓檢測設備。憑借其先進的光學能力，該系統能夠達到0.3 μ米或以下的分辨率，使其成為幾乎任何需要高分辨率成像的應用的理想選擇。該單元可以檢測到各種類型的缺陷，從劃痕和點蝕到微米級分辨率，用於小或難以檢查特征。此外,用戶可以從各種檢查參數中進行選擇,包括電壓、對比度、亮度、縮放和聚焦,以獲得準確的結果。LEICA INS 3300旨在簡化掩模和晶圓檢測的過程。它利用高級成像和處理系統,在效率和準確性方面提供強大的功能。機器的主要強度是它的快速掃描速度，可以達到10KHz。這樣可以確保即使是復雜的目標也能快速掃描。它還具有一組專門的成像功能,如線路替換技術（LRT）和邊緣檢測,可以檢測最小細節並提供清晰的成像。此外,還通過「自動特征查找」（AFF）對工具進行了精確設計。這允許通過自動檢測特定特征來精確檢測缺陷。此外,該資產還有一個全面的測量分析（MA）支持,該分析旨在消除在其他系統中經常觀察到的錯誤信號和誤報。VISTEC INS 3300是半導體掩模和晶圓檢驗的寶貴工具。它易於配置,即使在要求最苛刻的應用程序中也能提供卓越的性能。憑借先進的光學設備、強大的成像和處理能力以及全面的缺陷檢測功能,該模型非常適合需要最高質量保證級別的客戶。