二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9242162 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是一種先進的掩模和晶片檢測設備，旨在識別和分析平板顯示器、半導體晶片、光掩模和其他類似基板上的表面缺陷。該系統利用強大的成像光學和自動缺陷檢測算法，對缺陷進行精確、準確的檢測、分類和量化，直至亞微米級。該設備采用符合人體工程學的設計,使實驗室技術人員能夠高效、舒適地操作。其先進的光學機器能夠通過透射和反射光產生高分辨率基板的串聯圖像。它可以配置為單軸或多軸掃描,以便能夠檢查大型基板。該工具還包括一個可靠的固件包,可提供直觀的圖形用戶界面、自動功能對齊、自動缺陷檢測以及根據行業標準缺陷度量對結果進行實時分析。LEICA INS 3300還具有多種精確、可重復、可靠的成像、排序和分析參數。這些參數包括照明選擇、曝光時序、圖像閾值、缺陷大小限制、平均對比度、擴展範圍、粒徑限制、背景減法、粒子包涵參數和斑點檢測。資產的多模式功能集使其既適合工業應用，又適合實驗室使用。模型的缺陷表征結果可以報告為絕對值和相對於「完美」樣本的測量值或估計值。這使得這種設備非常適合檢查由於制造過程而在尺寸和形狀上具有變化特征的樣品。此外，該系統還提供多種輸出格式，能夠與其他系統使用的數據格式兼容，並便於與其他單元組件集成。這為生成綜合報告和在不同基材之間創建準確的比較測量提供了一個簡單的過程。總之，VISTEC INS 3300是一種先進的掩模和晶片檢測機，為自動缺陷檢測、分類和量化提供了必要的精度和準確性。該工具提供全面的輸出功能、用戶友好的操作以及與行業標準缺陷指標兼容的結果。它是工業應用和實驗室使用的理想工具。