二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9244341 待售

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 9244341
Wafer inspection system With single port.
LEICA/VISTEC INS 3300是一款功能強大、精密的掩模和晶圓檢測設備,非常適合那些尋求更高效、更全面的方法來分析其半導體工藝和產品質量的人。該系統使用戶能夠快速、準確和高效地監視、檢查和比較設備、掩碼、電路和晶片的組件和過程。該單元使用彩色共聚焦顯微鏡和掃描標準,如OPC(光學光刻工藝控制)和RET(分辨率增強技術),以便創建可用於比較和分析結果的高度優化圖像。圖像高度精確,考慮到表面不均勻性、粒子的存在和標記密度。這樣可以確保結果可靠和可重復,從而實現高效的質量監測和控制。LEICA INS 3300還具有廣泛的自動和引導檢查和測量功能。這使用戶能夠快速準確地分析數據和結果,而無需手動輸入或解釋。此外,這些結果是完全準確和可重復的,由於光源自由激光掃描過程。此外,該機器還具有集成的軟件套件,允許將圖像和數據從機器傳輸到PC,以便進行進一步的分析和操作。這使工程師和科學家能夠輕松分析和比較結果,而無需手動輸入或解釋數據。總之,VISTEC INS 3300非常適合那些尋求強大、準確和可靠的方法來分析其半導體工藝或產品數據的用戶。該工具使用戶能夠快速準確地分析圖像,並比較結果,以確保質量控制和改進方面的幫助。此外,它的自動化和引導檢查和測量能力,加上其集成的軟件套件,使其成為分析和檢查的理想工具。
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