二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9266076 待售

LEICA/VISTEC INS 3300是一款高性能的掩模和晶圓檢測設備，由LEICA Microsystems和VISTEC Semiconductor systems GmbH開發。它旨在確保檢測、檢查和測量集成電路的所有特性（如缺陷大小和類型）過程中的完全精度和一致性,同時確保低周期時間和成本。LEICA INS 3300以其高數值光圈鏡頭提供了前沿性能和精確度,結合了0.65NA和0.45NA目標以實現卓越的圖像分辨率和可靠的缺陷檢測。全畫幅圖像尺寸為21 x 21mm,可全面覆蓋IC,提供更大的視野和更高的工作效率。該系統具有增強的自動光學控制和自動對焦功能,以確保可靠的結果,無需進行昂貴的手動調整,並提高測量的準確性。該單元還支持不同的工作模式，如低光對比度和亮度對比度，以確保晶體管柵極開口和其他微觀缺陷的最佳檢測。該機可進一步用於檢測、分析和報告結構缺陷，如線寬和間距變化，以及顆粒缺陷和殘留物，給出晶圓的完整畫面。高級EasyPrint功能允許將檢查圖像快速準確地打印到硬介質或軟介質。該工具還具有一系列連接選項,如以太網、USB和GPIB,以便於與其他儀器集成。VISTEC INS 3300是經濟高效可靠的掩模和晶圓檢測的理想解決方案。它為各種應用提供了卓越的速度和準確性的組合,使其成為尋求可靠且經濟高效的晶圓檢測解決方案的半導體制造商的理想選擇。