二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #9268833 待售

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ID: 9268833
優質的: 2006
Wafer inspection system Review station, 12" Operator console with track ball and joy stick Objective lens: 10x / 0.30 BD HC PL Fluotar 20x / 0.50 BD HC PL Fluotar 50x / 0.85 / BD PL APO 100x / 0.90 BD PL APO 150x / 0.90 BD PL APO Eyepieces: HC PLAN 10x / 25 (LEICA) With handler 2006 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300是一款高性能的掩模和晶圓檢測設備,設計用於滿足潔凈室內集成電路生產和檢測的嚴格要求。它配備了獨特的多角度陰影投影系統,用於臨界尺寸和幾何形狀的可視化,允許無與倫比的缺陷覆蓋。集成檢測算法利用強大的成像技術進行高分辨率掩模和晶圓評審。該裝置提供卓越的質量保證,同時有效地提高產量。LEICA INS 3300具有模塊化架構,具有28個晶圓映射/分鐘的高通量,允許在多個基板上進行並行缺陷檢查。此外,它還包含許多高級計量功能,用於測量復雜結構的關鍵維度。它配備了一個5軸運動機器,允許在基板的邊緣或背面進行復雜的圖案結構快速檢查和測量。該工具的強大設計確保了可靠性,並使其能夠在各種工業環境中使用。VISTEC INS 3300的設計也考慮到了一個全面的管理環境。它符合Industry 4.0標準,這意味著它能夠與許多系統進行通信和集成。這包括啟用Industry 4.0的檢查路線,以及用於底物裝卸或資產移動的機器人自動化。INS 3300配備了一個大型觸摸屏顯示屏,讓即使是新手用戶也能輕松地導航,從而提供優越的用戶體驗。它包含用於檢查的采樣和FOV控制、自動缺陷分類、校準、QC測試、對齊模式、剪輯打印以及詳細報告和數據交換功能。此外,用戶靈活的軟件模型允許根據特定需求進行定制。LEICA/VISTEC INS 3300是IC生產和檢測中用於高性能掩模和晶圓檢測的強健靈活的工具。其獨特的多角度設備提供先進的計量功能,以實現高保真可視化和解鎖更高的收益率。Industry 4.0實現了與其他系統的通信和集成,確保了它符合未來的要求並符合當前標準。LEICA INS 3300具有強大的設計和寬大的觸摸屏顯示屏,易於使用,是高級掩碼和晶圓檢測的理想選擇。
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