二手 LEICA / VISTEC LDS 3300C #9285848 待售

LEICA/VISTEC LDS 3300C是一種用於半導體和微電子制造過程的掩模和晶圓檢測設備。利用最新的3D成像和自動缺陷檢測算法,LEICA LDS 3300C可以在分子水平上快速準確地檢測掩模和晶片上的缺陷。VISTEC LDS3300C可以在一納米範圍內測量，檢測小至0.06 µm的缺陷。除缺陷檢測外，該系統還能夠準確測量掩模和晶片的臨界尺寸以及材料對電流的電阻。LDS 3300C配備了一個特殊的高分辨率相機，能夠以高達500,000倍的放大倍率捕捉口罩和晶片的圖像。通過將相機與圖像處理軟件和強大的3D成像算法相結合，該設備能夠精確檢測最小缺陷。它還能夠測量較小的區域，如接觸墊等，並且可以進行高精度的3D表面測量。該機設計易於操作和維護。它具有直觀的用戶界面、可定制的設置和菜單驅動的操作工具。LEICA/VISTEC LDS3300C還配備了自動校準資產，可確保模型無論在何種條件或環境下繼續準確、正確地運行。LEICA LDS3300C是任何面罩和晶圓檢測要求的絕佳選擇。它具有很高的準確性、可靠性和易於使用。它是生產和測試集成電路的強大工具，提供比以往任何時候都更高的準確性和質量保證。