二手 LEICA / VISTEC LDS 3300M #293652840 待售

LEICA/VISTEC LDS 3300M是一種數字掩模和晶圓檢測設備，用於確保集成電路（IC）制造工藝的準確性。它結合了先進的數字成像技術和精密光學，為IC生產過程提供了快速可靠的結果。系統的主要功能是檢查掩模和晶片,並驗證其準確性。它使用500萬像素的照相機獲取有關IC的圖像。然後通過內置的高級圖像處理算法對生成的圖像進行處理,該算法評估IC的特征,以確保所有參數都在規定的範圍內（例如元素的大小、形狀和間距）。該過程還考慮了缺陷檢測和原位邊緣播種。此外,LEICA LDS3300M能夠檢測線寬變化和可能需要進一步處理或更正的IC特征。它還提供進一步的自動化分析功能,如集成圖像配準、邊緣檢測、無損微探測和高分辨率光掩碼檢查。該單元由基礎機和顯微鏡頭兩部分組成。基本工具包含PC和控制板,負責獲取圖像和處理數據。顯微鏡頭包括光學、照明資產和照相機，負責獲取圖像。該模型能夠使用直徑不超過200毫米的所有蒙版和晶圓尺寸。為便於使用，該設備包括一個直觀的用戶界面，使用戶能夠快速了解控件並輕松調整設置。此外,系統還包括高級軟件包,如CI-Max,允許進行高級分析,如增強測量和缺陷檢測。綜上所述，VISTEC LDS 3300 M是一個強大而全面的掩模和晶圓檢驗單元，為IC生產提供準確可靠的結果。它具有500萬像素的攝像頭、高級圖像處理算法、自動化分析功能、直觀的用戶界面和高級軟件包,所有這些都為用戶提供了多個IC大小的快速、可靠的結果。