二手 LEICA / VISTEC LDS 3300M #9394051 待售

LEICA/VISTEC LDS 3300M是一種綜合性的掩模和晶片檢查設備,可自動掃描光掩模和光刻晶片。該系統能快速有效地檢測各種生產基板上的缺陷。它能夠以各種成像模式檢查直徑不超過12英寸的晶片，包括亮場、暗場、傳輸和散射。LEICA LDS3300M使用數字信號處理器和激光二極管快速比較來自掩模或晶片的反射圖樣和高分辨率參考圖像。它是一個高度通用的單元，能夠在各種生產步驟中進行質量檢查和缺陷檢測。機器可以每小時自動掃描多達50個晶片，並識別模式圖像中的任何不匹配。該工具包括一個直觀的軟件界面，使得它很容易定制檢查參數和設置。VISTEC LDS 3300 M支持多種配置選項，允許用戶微調檢測器、尺寸參數和其他設置。它還支持多種對齊方法,從而實現高效的自動掃描。此外,LDS 3300M還配備了強大的分析引擎。該引擎可以檢測和分類各種類型的缺陷，包括邊緣不規則、幹擾、斷紋等。然後，這些數據可用於生成綜合報告，用於評估和執行糾正措施。資產還記錄詳細的顯示信息,如缺陷的大小、類型和位置,使用戶能夠可視化和量化其檢查結果。LEICA/VISTEC LDS3300M是光掩模和光刻晶片檢驗的絕佳選擇。它可靠、準確、用戶友好,非常適合任何生產環境。該型號設備齊全,可處理各種檢查任務,確保最終產品沒有任何潛在的損壞缺陷。