二手 LEICA / VISTEC LWS 3000 CFI #9155206 待售

LEICA/VISTEC LWS 3000 CFI是一種最先進的掩模和晶圓檢測設備。它為集成電路（IC）生產掩模的檢查提供了全面的能力，包括常用的光刻和電子束成像技術。利用先進的檢驗和計量技術,LEICA LWS 3000 CFI提供了對掩模模式和缺陷的實時、深入分析。這包括全面的缺陷分類,利用一種復雜的特征識別技術來捕獲蒙版圖案的細線和形狀中最小的變化。高分辨率成像是通過自動化光學系統提供的，而電子束成像是通過雙束離子源技術提供的。可以進行精確的測量,並將其對齊到1.0 um以內,以確保結果的準確性和可重復性。這種精密計量工具還具有一個4英寸的原始空間鏡像相機，以確保所有的測量都從相同的精確位置拍攝。VISTEC LWS 3000 CFI還具有多功能自動化功能,使其能夠從生產車間到實驗室高效工作。這包括一個強大的可視化和管理單元,提供檢查結果的可追蹤性。自動化機器Logbook將所有數據存儲在基於雲的安全工具中,以便將來進行訪問和分析。資產符合現代口罩生產的要求，給用戶一個徹底檢驗、驗證的口罩的信心。它非常適合確保從頭到尾的質量控制,即使在要求很高的口罩生產環境中也能提供可靠的性能和生產率。最後,LWS 3000 CFI支持生產口罩的可靠性能和自動檢查。其精確的測量和特征識別功能可實現快速、經濟高效的生產,而其自動化功能可最大程度地減少用戶的工作量並縮短處理時間。高度精確的測量提供了無與倫比的準確性和可重復性,使LEICA/VISTEC LWS 3000 CFI成為口罩生產和檢查的理想選擇。