二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9024068 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一種主要用於半導體工業的掩模和晶圓檢驗設備。它旨在以速度、精度、靈活性和操作員便利性的無與倫比的組合檢查一系列半導體掩模和晶片。LEICA MIS 200利用先進的成像和測量技術快速獲取圖像，將其比作設定標準，並迅速采取糾正措施，使得晶圓和芯片的產量更高。該系統通過同時檢查表面及其背面輪廓,最大限度地提高了工藝保證和產品性能。這個功能強大的工具徹底測量不同的厚度和CD值到0.25微米的分辨率。VISTEC MIS 200裝有一個激光幹涉單元，該單元集成了先進的視覺傳感器，用戶可以在其中設置WL和成像功能的參數，以獲得最佳性能。MIS 200機器能夠進行四點檢測和晶片測序，以確保更一致的晶片形狀和精度。最多有8個位點，該工具可以同時對齊並分別測量基板的四個不同區域。這四個光學元件精確對齊和校準,確保了一流的性能和可重復性。此外，該資產還能夠對500毫米以下的材料進行遠距離檢查，並具有180毫米以下的大視野，從而可以靈活地檢查各種尺寸的基板。為了便於使用,LEICA/VISTEC MIS 200具有用戶友好的GUI和易於導航的直觀軟件。車型配備了大型液晶多點觸控顯示面板，使得設置參數的過程更加高效。此外,設備還可以通過USB、VGA和以太網連接到其他設備和設備。總之，LEICA MIS 200是一種高性能的掩模晶圓檢測系統，是半導體工業的理想解決方案。憑借其最先進的成像和測量技術、直觀的用戶界面、準確性和靈活性,該設備為半導體制造商提供了無與倫比的屏蔽和晶片檢查。