二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9177359 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一種用於半導體制造的掩模和晶圓檢測設備，其可靠性和準確性無與倫比。這種先進的系統為用戶提供了最詳細的檢驗功能，為質量控制設定了新的標準。該單元能夠考慮晶圓地形、納米尺度探測以及一系列參數測量，以檢測可能存在的微小缺陷。LEICA MIS 200具有檢查多個模具的能力,其測量能力比同類系統快15倍。此外,用戶還可以輕松控制所測量的精確參數和組件,如層型、晶體管、通風孔和其他高密度電路結構。精確的對準也可以很快實現，無論晶圓地形如何。這導致最大限度地減少了高達10.5 μ m的誤讀異常值,大大低於傳統系統。該機由立體顯微鏡顯微鏡和附著在基於PC的圖像捕捉工具上的電動XY級組成。它與獲得專利的遠心光學器件相結合,以創建晶圓或掩模的聚焦圖像。該資產還具有多項高科技功能,例如使用專有算法進行特征檢測和識別的自動測量。這允許用戶快速定位和測量組件。它還包括一個直觀的軟件界面，允許用戶輕松、精確地微調參數。VISTEC MIS 200是一款功能強大、效率高的檢測模型，可以提供最高水平的準確性和可靠性。該設備可用於確保生產質量最高的蒙版和晶片產品,並確保快速找到和解決存在的任何缺陷。該系統對於確保半導體器件滿足最嚴格的制造要求至關重要。